|
Título:
|
Mechanisms for conduction via low-frequency noise measurements of High-Tc Thin-film microbridges
|
|
Autor/a:
|
Nguyen, T. D.; O'Callaghan Castellà, Juan Manuel; Davidson, B. A.; Redwing, R. D.; Hohenwarter, G. K. G.; Nordman, J. E.; Beyer, J. B.
|
|
Otros autores:
|
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions; Universitat Politècnica de Catalunya. RF&MW - Grup de Recerca de sistemes, dispositius i materials de RF i microones |
|
Abstract:
|
We have investigated possible mechanisms for conduction in high-T/sub c/ thin-film microbridges biased into the voltage state via the low-frequency noise properties. Measurements on thinned YBCO microbridges indicate that the voltage noise power spectral density S/sub V/(f) is proportional to the DC voltage. |
|
Abstract:
|
Peer Reviewed |
|
Materia(s):
|
-Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació::Radiocomunicació i exploració electromagnètica::Circuits de microones, radiofreqüència i ones mil·limètriques
-High temperature superconductors
-Superconductivity
-1/f noise
-barium compounds
-flux flow
-flux pinning
-high-temperature superconductors
-superconducting device noise
-superconducting device testing
-superconducting microbridges
-superconducting thin films
-yttrium compounds
-Superconductors a altes temperatures
-Superconductivitat |
|
Derechos:
|
|
|
Tipo de documento:
|
Artículo |
|
Editor:
|
IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
|
|
Compartir:
|
|
