Título:
|
A Method for the Determination of a Distributed FET Noise-Model Based on Matched-Source Noise-Figure Measurements
|
Autor/a:
|
Maya Sánchez, Mª del Carmen; Pradell i Cara, Lluís; Lázaro Guillén, Antoni
|
Otros autores:
|
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions; Universitat Politècnica de Catalunya. RF&MW - Grup de Recerca de sistemes, dispositius i materials de RF i microones |
Abstract:
|
A new method for the determination of a distributed FET noise model is presented. It is based on the extraction of the intrinsic noise-correlation matrix of an elemental section of the device from the device's noise figure, measured for only one source-impedance state at a number of frequency points. Experimental results up to 40 GHz are given. |
Abstract:
|
Peer Reviewed |
Materia(s):
|
-Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació::Radiocomunicació i exploració electromagnètica::Circuits de microones, radiofreqüència i ones mil·limètriques -Radio wave propagation -Noise Measurement -Impedance (Electricity) Measurement. -Field-effect transistors -noise-parameters measurement -FET noise parameters -distributed FET noise model -intrinsic noise-correlation matrix -noise modeling -electric impedance -field effect transistors -noise measurement -semiconductor device noise -matched-source noise-figure measurement -source-impedance state -Propagació d'ones -Soroll -- Mesurament -Transistors d'efecte de camp -Impedància (Electricitat) |
Derechos:
|
|
Tipo de documento:
|
Artículo |
Editor:
|
JOHN WILEY & SONS INC
|
Compartir:
|
|