To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/1480
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica |
---|---|
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions |
dc.contributor.author | Martorell Cid, Ferran |
dc.contributor.author | Pons Solé, Marc |
dc.contributor.author | Rubio, Antonio |
dc.contributor.author | Moll Echeto, Francisco de Borja |
dc.date | 2007-07 |
dc.identifier.citation | Martorell, F.; Pons, M.; Rubio, A.; Moll, F. Error probability in synchronous digital circuits due to power supply noise. Design & technology of integrated systems 2007. |
dc.identifier.citation | 1-4244-1278-1 |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2117/1480 |
dc.language.iso | eng |
dc.relation | International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS'07) |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
dc.subject | Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica::Circuits integrats |
dc.subject | Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica::Processadors digitals |
dc.subject | Integrated circuits Very large scale integration |
dc.subject | Integrated circuits Very large scale integration Reliability |
dc.subject | Power supply noise |
dc.subject | Error probability |
dc.subject | CMOS synchronous circuits |
dc.subject | Circuits digitals -- Disseny i construcció |
dc.subject | Circuits integrats a molt gran escala -- Disseny i construcció |
dc.title | Error probability in synchronous digital circuits due to power supply noise |
dc.type | info:eu-repo/semantics/conferenceObject |
dc.description.abstract | |
dc.description.abstract |