Per accedir als documents amb el text complet, si us plau, seguiu el següent enllaç: http://hdl.handle.net/2445/22101

Fabrication and structural characterization of highly ordered sub-100-nm planar magnetic nanodot arrays over 1 cm2 coverage area
Li, Chang-Peng; Roshchin, Igor V.; Batlle Gelabert, Xavier; Viret, Michel; Ott, Frédéric; Schuller, Ivan K.
Universitat de Barcelona
Alumini
Nanotecnologia
Ferromagnetisme
Propietats magnètiques
Matèria condensada
Microscòpia electrònica d'escombratge
Nanotechnology
Ferromagnetism
Magnetic properties
Condensed matter
Scanning electron microscopy
Aluminium
(c) American Institute of Physics, 2006
Article
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
American Institute of Physics
         

Mostra el registre complet del document

Documents relacionats

Altres documents del mateix autor/a

Mejía-López, J.; Altbir, D.; Romero, A. H.; Batlle Gelabert, Xavier; Roshchin, Igor V.; Li, Chang-Peng; Schuller, Ivan K.
Olamit, J.; Arenholz, E.; Li, Zhi-Pan; Petracic, Oleg; Roshchin, Igor V.; Batlle Gelabert, Xavier; Schuller, Ivan K.; Liu, Kai; Morales, R.
Roy, S.; Fitzsimmons, M. R.; Park, S.; Dorn, M.; Petracic, Oleg; Roshchin, Igor V.; Li, Zhi-Pan; Batlle Gelabert, Xavier; Morales, R.; Misra, A.; Zhang, Xixiang; Chesnel K.; Kortright, J. B.; Sinha, S. K.; Schuller, Ivan K.
Li, Zhi-Pan; Petracic, Oleg; Morales, R.; Batlle Gelabert, Xavier; Liu, Kai; Schuller, Ivan K.
Valmianski, I.; Gabriel Ramirez, Juan; Urban, C.; Batlle Gelabert, Xavier; Schuller, Ivan K.