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| dc.contributor | Universitat de Barcelona |
|---|---|
| dc.contributor.author | Vendrell Saz, Màrius |
| dc.contributor.author | López Soler, Ángel |
| dc.date | 2011-05-25T10:49:11Z |
| dc.date | 2011-05-25T10:49:11Z |
| dc.date | 1979 |
| dc.identifier.citation | 0567-7505 |
| dc.identifier.citation | 65710 |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2445/18189 |
| dc.description.abstract | Se establecen las condiciones criticas que necesariamente tienen que cumplirse cuando se pretende calcular las constantes Opticas (n v k) de un material opaco, mediante las mediciones de reflectancia en dos medios de distinto ndice de refraccion. |
| dc.format | 4 p. |
| dc.format | application/pdf |
| dc.language.iso | spa |
| dc.publisher | Universitat de Barcelona (UB). Institut de Cincias de la Terra Jaume Almera (ICTJA) |
| dc.relation | Reproducció del document publicat a http://www.raco.cat/index.php/ActaGeologica/article/view/74980 |
| dc.relation | Acta Geologica Hispanica, 1979, vol. 14, p. 71-74 |
| dc.rights | (c) Vendrell-Saz, et al., 1979 |
| dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
| dc.subject | Difracció |
| dc.subject | Refracció |
| dc.subject | Diffraction |
| dc.subject | Refraction |
| dc.title | Condiciones críticas de medición en las mediciones cuantitativas de reflectancia. Errores sistemticos |
| dc.type | info:eu-repo/semantics/article |
| dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion |
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