Condiciones críticas de medición en las mediciones cuantitativas de reflectancia. Errores sistemticos

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Título:	Condiciones críticas de medición en las mediciones cuantitativas de reflectancia. Errores sistemticos
Autor/a:	Vendrell Saz, Màrius; López Soler, Ángel
Otros autores:	Universitat de Barcelona
Abstract:	Se establecen las condiciones criticas que necesariamente tienen que cumplirse cuando se pretende calcular las constantes Opticas (n v k) de un material opaco, mediante las mediciones de reflectancia en dos medios de distinto ndice de refraccion.
Materia(s):	-Difracció -Refracció -Diffraction -Refraction
Derechos:	(c) Vendrell-Saz, et al., 1979
Tipo de documento:	Artículo Artículo - Versión publicada
Editor:	Universitat de Barcelona (UB). Institut de Cincias de la Terra Jaume Almera (ICTJA)
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Vendrell Saz, Màrius; Nogués, Joaquim M.; López Soler, Ángel; Bosch Figueroa, J. M.

Besteiro, J.; Vendrell Saz, Màrius; López Soler, Ángel; Bosch Figueroa, J. M.; Font-Altaba, M. (Manuel), 1922-2005

Nogués, Joaquim M.; López Soler, Ángel; Bosch Figueroa, J. M.

Nogués, Joaquim M.; López Soler, Ángel; Bosch Figueroa, J. M.

Vendrell Saz, Màrius; Garcia Vallès, Maite; Salvadó i Cabré, Nativitat; Megias, Laura

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