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oai:recercat.cat:2445/1559382026-03-01T00:34:43Zcom_2072_1057col_2072_478917col_2072_478923

Técnicas de caracterización mineral y su aplicación en exploración minera Melgarejo i Draper, Joan-Carles Proenza Fernández, Joaquín Antonio Galí Medina, Salvador, 1949- Llovet Ximenes, Xavier Minerals Metodologia Microscòpia electrònica Indústria minera Minerals Methodology Electron microscopy Mineral industries En este trabajo se presenta una síntesis de las técnicas analíticas más utilizadas en la caracterización mineral, y su aplicación a la exploración y explotación minera. Las técnicas han sido clasificadas en 2 grupos. El primer grupo incluye a las técnicas de mayor uso ("técnicas convencionales"): (i) difracción de polvo de rayos X y difracción cuantitativa de rayos X, (ii) Microscopio electrónico de barrido con analizador de energías (SEM-EDS), (iii) catodoluminiscencia, y iv) microsonda electrónica (EMPA). El segundo grupo abarca un grupo de técnicas menos accesible, y mucho más caras, ("técnicas no convencionales"): (i) Particle Induced X-Ray Emission(Micro-PIXE), (ii) Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS, (iii) Laser-Ablation-Inductively Coupled Plasma-Mass Spectrometry (LAICP-MS). La mayor parte de la compilación esta dedicada a las técnicas convencionales (DRX, SEM-EDS y EMP), las cuales pueden ser de mayor impacto en el campo de la pequeña minería 2020-04-20T08:03:26Z 2020-04-20T08:03:26Z 2010-04 2020-04-20T08:03:26Z info:eu-repo/semantics/article info:eu-repo/semantics/publishedVersion 1405-3322 https://hdl.handle.net/2445/155938 575019 spa Reproducció del document publicat a: https://doi.org/10.18268/BSGM2010v62n1a1 Boletín de la Sociedad Geológica Mexicana, 2010, vol. 62, num. 1, p. 1-23 https://doi.org/10.18268/BSGM2010v62n1a1 cc-by-nc-nd (c) Melgarejo i Draper, Joan-Carles et al., 2010 http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es info:eu-repo/semantics/openAccess 23 p. application/pdf Universidad Nacional Autónoma de México (UNAM) Articles publicats en revistes (Mineralogia, Petrologia i Geologia Aplicada)