To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2099.1/3209

Aplicaciones de la Microscopía de Fuerza Atómica (AFM) cómo método de caracterización de polímeros
Díaz Marcos, Jordi
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Ciència dels Materials i Enginyeria Metal•lúrgica; Segarra Rubí, Mercè
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria dels materials::Assaig de materials::Assaigs estructurals
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria dels materials::Assaig de materials
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria dels materials::Materials plàstics i polímers
info:eu-repo/semantics/bachelorThesis
Universitat Politècnica de Catalunya
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Díaz Marcos, Jordi; Pinna, Francesca; Oncins Marco, Gerard
Vinardell Martínez-Hidalgo, Ma. Pilar; Sordé, A.; Díaz Marcos, Jordi; Baccarin, T.; Mitjans Arnal, Montserrat
Vinardell Martínez-Hidalgo, Ma. Pilar; Sordé, A.; Díaz Marcos, Jordi; Baccarin, T.; Mitjans Arnal, Montserrat
 

Coordination

 

Supporters