Per accedir als documents amb el text complet, si us plau, seguiu el següent enllaç: http://hdl.handle.net/2099.1/3209

Aplicaciones de la Microscopía de Fuerza Atómica (AFM) cómo método de caracterización de polímeros
Díaz Marcos, Jordi
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Ciència dels Materials i Enginyeria Metal•lúrgica; Segarra Rubí, Mercè
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria dels materials::Assaig de materials::Assaigs estructurals
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria dels materials::Assaig de materials
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria dels materials::Materials plàstics i polímers
info:eu-repo/semantics/bachelorThesis
Universitat Politècnica de Catalunya
         

Mostra el registre complet del document

Documents relacionats

Altres documents del mateix autor/a

Vinardell Martínez-Hidalgo, Ma. Pilar; Sordé, A.; Díaz Marcos, Jordi; Baccarin, T.; Mitjans Arnal, Montserrat
Vinardell Martínez-Hidalgo, Ma. Pilar; Sordé, A.; Díaz Marcos, Jordi; Baccarin, T.; Mitjans Arnal, Montserrat