Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2099.1/2990

Anàlisi de la predicció del yield de circuits integrats a nivell d’oblia:Influència de la posició i de les agrupacions
Castillo Muñoz, Raül
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Rodríguez Montañés, Rosa
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica::Circuits integrats
info:eu-repo/semantics/bachelorThesis
Universitat Politècnica de Catalunya
         

Mostrar el registro completo del ítem