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Configurational statistical model for the damaged structure of silicon oxide after ion implantation
Garrido Beltrán, Lluís; Samitier i Martí, Josep; Morante i Lleonart, Joan Ramon; Montserrat i Martí, Josep; Domínguez, Carlos (Domínguez Horna)
Universitat de Barcelona
04-05-2010
Efecte de les radiacions sobre els materials
Fotoemissió
Espectroscòpia de fotoelectrons
Effect of radiation on materials
Photoemission
Photoelectron spectroscopy
(c) The American Physical Society, 1994
Artículo
The American Physical Society
         

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