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Gallium-Indium-Zinc-Oxide-Based Thin-Film Transistors: Influence of the Source/Drain Material
Barquinha, Pedro M. C.; Vilà i Arbonès, Anna Maria; Gonçalves, Gonçalo; Pereira, Luís M. N.; Martins, Rodrigo F. P.; Morante i Lleonart, Joan Ramon; Fortunato, Elvira M. C.
Universitat de Barcelona
04-05-2010
Espectrometria de masses
Semiconductors amorfs
Annealing
Secondary ion mass spectroscopy
Thin film transistors
Time of flight
Mass spectrometers
(c) IEEE, 2008
Artículo
IEEE
         

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