Per accedir als documents amb el text complet, si us plau, seguiu el següent enllaç: http://hdl.handle.net/2445/10826

Electronic structure and screening dynamics of ethene on single domain Si(001) from resonant inelastic X-ray scattering.
Fhlisch, A.; Hennies, F.; Wurth, W.; Witkowski, N.; Nagasono, M.; Piancastelli, M. N.; Moskaleva, L. V.; Neyman, Konstantin M.; Rösch, Notker
Universitat de Barcelona
04-05-2010
Superfícies (Física)
Estructura electrònica
Propietats òptiques
Electronic structure
Optical properties
Superfícies (Física)
(c) The American Physical Society, 2004
Article
The American Physical Society
         

Mostra el registre complet del document

Documents relacionats

Altres documents del mateix autor/a

Aleksandrov, Hristiyan A.; Neyman, Konstantin M.; Hadjiivanov, Konstantin I.; Vayssilov, Georgi N.
Loschen, Christoph; Carrasco Rodríguez, Javier; Neyman, Konstantin M.; Illas i Riera, Francesc
Kozlov, Sergey; Demiroglu, Ilker; Neyman, Konstantin M.; Bromley, Stefan Thomas
Kozlov, Sergey; Aleksandrov, Hristiyan A.; Neyman, Konstantin M.