To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2099.1/9171

Tecnologia d'integració d'equips de test automàtic per a l'optimització del test en producció de xips a baix cost
Farré Lozano, Maria Goretti
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Fransi Palos, Sergi
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica i telecomunicacions::Microelectrònica::Circuits integrats
Integrated circuits -- Testing
Circuits integrats -- Testeig
Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
info:eu-repo/semantics/bachelorThesis
Universitat Politècnica de Catalunya
         

Show full item record

 

Coordination

 

Supporters