Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2099.1/7610

Caracterización y control de los efectos de la carga parásita en dispositivos MEMS
López Esteban, David
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Pons Nin, Joan
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica
Microelectromechanical systems
Sistemes microelectromecànics
Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
info:eu-repo/semantics/bachelorThesis
Universitat Politècnica de Catalunya
         

Mostrar el registro completo del ítem

 

Coordinación

 

Patrocinio