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Caracterización y control de los efectos de la carga parásita en dispositivos MEMS
López Esteban, David
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Pons Nin, Joan
Estudio y caracterización del efecto de la acumulación de carga en dispositivos MEMS mediante un modelo equivalente y la realización de medidas experimentales, todo ello con el objetivo de mantener el nivel de carga en el sistema alrededor de un determinado umbral.
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica
Microelectromechanical systems
Sistemes microelectromecànics
Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
info:eu-repo/semantics/bachelorThesis
Universitat Politècnica de Catalunya
         

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