To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/110562

Modelos físicos y técnicas de medida de ruido de transistores MESFETS y HEMT a frecuencias de microondas
Pradell i Cara, Lluís; Purroy, Francesc; O'Callaghan Castellà, Juan Manuel
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions; Universitat Politècnica de Catalunya. RF&MW - Grup de Recerca de sistemes, dispositius i materials de RF i microones
-Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació
-Telecommunication
-Telecomunicació
Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
Article - Published version
Conference Object
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Pradell i Cara, Lluís; Purroy, Francesc; Subirats, M.; Ballester, A.; Torres Torres, Francisco; O'Callaghan Castellà, Juan Manuel; Corbella Sanahuja, Ignasi
Pradell i Cara, Lluís; Corbella Sanahuja, Ignasi; Comerón Tejero, Adolfo; Bará Temes, Francisco Javier; Artal, E.; Torres Torres, Francisco; Purroy, Francesc; Barlabe Dalmau, Antoni; Sales, V.
Lázaro Guillén, Antoni; Pradell i Cara, Lluís; O'Callaghan Castellà, Juan Manuel
Lázaro Guillén, Antoni; Pradell i Cara, Lluís; Beltrán, A.; O'Callaghan Castellà, Juan Manuel
O'Callaghan Castellà, Juan Manuel; Alegret, A.; Pradell i Cara, Lluís; Corbella Sanahuja, Ignasi
 

Coordination

 

Supporters