To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/84495

Variación de la frecuencia de trabajo en un cristal fotónico basado en silicio macroporoso al variar la longitud del defecto
Cardador, D.; Vega Bru, Didac; Rodríguez Martínez, Ángel
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. MNT - Grup de Recerca en Micro i Nanotecnologies
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació::Telecomunicació òptica::Fotònica
Photonics
Cristal fotónico
Silicio macroporoso
Defecto
Banda prohibida
Fotònica
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Vega Bru, Didac; Reina Marsinyach, Jordi; Martin, Ferran; Pavón Urbano, Ramón; Rodríguez Martínez, Ángel
Sánchez Terrones, Benjamin; Vega Bru, Didac; Rodríguez Martínez, Ángel; Bragós Bardia, Ramon; Marco Colas, María Pilar; Valera Cano, Enrique Andrés
Vega Bru, Didac; Rodríguez Martínez, Ángel; Todorov Trifonov, Trifon; Calavia, Raul; Vilanova, Xavier
Vega Bru, Didac; Hernández Díaz, David; Todorov Trifonov, Trifon; Rodríguez Martínez, Ángel; Alcubilla González, Ramón; López, E.; Jiménez, Nuria; Llorca Piqué, Jordi
Vega Bru, Didac; Todorov Trifonov, Trifon; Hernández García, David; Rodríguez Martínez, Ángel; Alcubilla González, Ramón
 

Coordination

 

Supporters