Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2445/32224

The valence band alignment at ultrathin SiO2/Si interfaces
Alay, Josep Lluís; Hirose, M.
Universitat de Barcelona
Semiconductors
Interfícies (Ciències físiques)
Semiconductors
Interfaces (Physical sciences)
(c) American Institute of Physics , 1997
Artículo
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
American Institute of Physics
         

Mostrar el registro completo del ítem