To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/88024

Banco automatizado para la medida de parámetros S, de ruido y características DC de transistores en oblea
Pradell i Cara, Lluís; Purroy, Francesc; Subirats, M.; Ballester, A.; Torres Torres, Francisco; O'Callaghan Castellà, Juan Manuel; Corbella Sanahuja, Ignasi
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions; Universitat Politècnica de Catalunya. RF&MW - Grup de Recerca de sistemes, dispositius i materials de RF i microones; Universitat Politècnica de Catalunya. RSLAB - Grup de Recerca en Teledetecció
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació::Radiocomunicació i exploració electromagnètica
Microwaves
Transistors
Microones
Transistors
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

O'Callaghan Castellà, Juan Manuel; Alegret Ginesta, Alexandre; Pradell i Cara, Lluís; Corbella Sanahuja, Ignasi
O'Callaghan Castellà, Juan Manuel; Alegret, A.; Pradell i Cara, Lluís; Corbella Sanahuja, Ignasi
Lázaro Guillén, Antoni; Pradell i Cara, Lluís; O'Callaghan Castellà, Juan Manuel
Lázaro Guillén, Antoni; Pradell i Cara, Lluís; Beltrán, A.; O'Callaghan Castellà, Juan Manuel
Lázaro Guillén, Antoni; Pradell i Cara, Lluís; O'Callaghan Castellà, Juan Manuel
 

Coordination

 

Supporters