To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2445/98399

Kelvin probe measurements of microcrystalline silicon on a nanometer scale using SFM
Breymesser, A.; Schlosser, V.; Peiró, D.; Voz Sánchez, Cristóbal; Bertomeu i Balagueró, Joan; Andreu i Batallé, Jordi; Summhammer, J.
Universitat de Barcelona
Silici
Deposició química en fase vapor
Cèl·lules solars
Silicon
Chemical vapor deposition
Solar cells
(c) Elsevier B.V., 2001
Article
info:eu-repo/semantics/acceptedVersion
Elsevier B.V.
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Stöger, M.; Breymesser, A.; Schlosser, V.; Ramadori, M.; Plunger, V.; Peiró, D.; Voz Sánchez, Cristóbal; Bertomeu i Balagueró, Joan; Nelhiebel, M.; Schattschneider, P.; Andreu i Batallé, Jordi
Voz Sánchez, Cristóbal; Peiró, D.; Bertomeu i Balagueró, Joan; Soler Vilamitjana, David; Fonrodona Turon, Marta; Andreu i Batallé, Jordi
Puigdollers i González, Joaquim; Orpella, A.; Alcubilla González, Ramón; Dosev, D.; Pallarés Curto, Jordi; Peiró, D.; Voz Sánchez, Cristóbal; Bertomeu i Balagueró, Joan; Andreu i Batallé, Jordi; Marsal Garví, Lluís F. (Lluís Francesc)
Puigdollers i González, Joaquim; Orpella, A.; Dosev, D.; Voz Sánchez, Cristóbal; Pallarés Curto, Jordi; Marsal Garví, Lluís F. (Lluís Francesc); Bertomeu i Balagueró, Joan; Andreu i Batallé, Jordi; Alcubilla González, Ramón; Peiró, D.
Voz Sánchez, Cristóbal; Peiró, D.; Fonrodona Turon, Marta; Soler Vilamitjana, David; Bertomeu i Balagueró, Joan; Andreu i Batallé, Jordi
 

Coordination

 

Supporters