To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/86599

Statistical lifetime analysis of memristive crossbar matrix
Pouyan, Peyman; Amat, Esteve; Rubio Sola, Jose Antonio
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica
Electric engineering
Memristor
Uncertainty
Crossbar
Endurance
Process variability
RRAM
Emerging device
Enginyeria elèctrica
Electrònica -- Materials
Circuits elèctrics
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Pouyan, Peyman; Amat, Esteve; Rubio Sola, Jose Antonio
Pouyan, Peyman; Amat Bertran, Esteve; Rubio Sola, Jose Antonio
Pouyan, Peyman; Amat Bertran, Esteve; Rubio Sola, Jose Antonio
Pouyan, Peyman; Amat Bertran, Esteve; Moll Echeto, Francisco de Borja; Rubio Sola, Jose Antonio
 

Coordination

 

Supporters