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Degradation study and calculation of density-of-states in PTCDI-C8 channel layer from the electrical characteristics of thin-film transistors
Shijeesh, Methattel R.; Vikas, L. S.; Jayaraj, M. K.; Puigdollers i González, Joaquim
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. MNT - Grup de Recerca en Micro i Nanotecnologies
Àrees temàtiques de la UPC::Física
Semiconductors
Semiconductors
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Artículo
American Institute of Physics (AIP)
         

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