To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/28179

Modeling technique of the conducted emission of integrated circuit under different temperatures
Berbel Artal, Néstor; Fernández García, Raúl; Gil Galí, Ignacio
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. RFEMC - Grup de Radiofreqüència i Compatibilitat Electromagnètica en Xarxes de Comunicacions
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica::Circuits integrats
Integrated circuits
Heat - Conduction
ICEM-CE
integrated circuit
EMC
internal activity
FSV
conducted emissions
temperature
Circuits integrats
Calor--Conducció
info:eu-repo/semantics/submittedVersion
Article
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Berbel Artal, Néstor; Fernández García, Raúl; Gil Galí, Ignacio
Pérez Robles, Daniel; Gil Galí, Ignacio; Gago Barrio, Javier; Fernández García, Raúl; Balcells Sendra, Josep; González Díez, David; Berbel Artal, Néstor; Mon González, Juan
Berbel Artal, Néstor; Fernández García, Raúl; Gil Galí, Ignacio
Berbel Artal, Néstor; Fernández García, Raúl; Gil Galí, Ignacio
 

Coordination

 

Supporters