Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/27909

Metrologia 3D de superfícies extenses
Royo Royo, Santiago; Ares Rodríguez, Miguel; Riu Gras, Jordi; Panyella, David
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Òptica i Optometria; Universitat Politècnica de Catalunya. GREO - Grup de Recerca en Enginyeria Òptica
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria mecànica
Àrees temàtiques de la UPC::Ciències de la visió::Òptica física
Metrology
Image processing Digital techniques
Stereoscopic cameras
Time-of-flight mass spectrometry
Optical radar
Surfaces (Physics)--Optical properties
Metrologia
Imatges -- Processament -- Tècniques digitals
Visualització tridimensional (Informàtica)
Superfícies (Física) -- Propietats òptiques
Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
Artículo
         

Mostrar el registro completo del ítem

Documentos relacionados

Otros documentos del mismo autor/a

Riu Gras, Jordi; Sicard, Michaël; Royo Royo, Santiago; Comerón Tejero, Adolfo
Caum Aregay, Jesús; Arasa Marti, Jose; Royo Royo, Santiago; Ares Rodríguez, Miguel
Ares Rodríguez, Miguel; Royo Royo, Santiago; Caum Aregay, Jesús; Pizarro Bondia, Carlos
Caum Aregay, Jesús; Arasa Marti, Jose; Royo Royo, Santiago; Ares Rodríguez, Miguel