Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2445/65457

Obtención de láminas delgadas de Y-Ba-Cu-O sobre Si (100)
Queralt, X.; Varela Fernández, Manuel, 1956-; Morenza Gil, José Luis
Universitat de Barcelona
Difracció de raigs X
Espectrometria de masses
Microscòpia
X-rays diffraction
Mass spectrometry
Microscopy
cc-by-nc (c) Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC). Sociedad Española de Ceramica y Vidrio, 1991
http://creativecommons.org/licenses/by-nc/3.0/es
Artículo
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC)
         

Mostrar el registro completo del ítem

Documentos relacionados

Otros documentos del mismo autor/a

Serra Coromina, Pere; Palau, J.; Varela Fernández, Manuel, 1956-; Esteve Pujol, Joan; Morenza Gil, José Luis
Varela Fernández, Manuel, 1956-; Bertrán Serra, Enric; Lousa Rodríguez, Arturo; Esteve Pujol, Joan; Morenza Gil, José Luis
Lloret, A.; Bertran Serra, Enric; Andújar Bella, José Luis; Canillas i Biosca, Adolf; Morenza Gil, José Luis
Andújar Bella, José Luis; Bertran Serra, Enric; Canillas i Biosca, Adolf; Campmany i Guillot, Josep, 1966-; Morenza Gil, José Luis
Serra-Miralles, J.; Bertomeu i Balagueró, Joan; Sardin, Georges; Roch i Cunill, Carles; Asensi López, José Miguel; Andreu i Batallé, Jordi; Morenza Gil, José Luis