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Preparación de agregados orientados de arcilla mediante extensor
Plana, F.; Traveria i Cros, Adolf; Martínez Manent, Salvador
Universitat de Barcelona
Se detalla un método nuevo para la preparación de agregados orientados de arcilla para sus análisis por Difracción de Rayos X. Se trata de emplear un extensor para obtener un grosor constante de material, que por su delgadez seca rápidamente, economizándose tiempo y espacio en el laboratorio, obteniéndose además mejores resultados que con el método convencional.
Argila
Difracció de raigs X
Clay
X-rays diffraction
cc-by-nc (c) Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC). Sociedad Española de Ceramica y Vidrio, 1982
http://creativecommons.org/licenses/by-nc/3.0/es
Artículo
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC)
         

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