Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/27190
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Arquitectura de Computadors |
---|---|
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. ARCO - Microarquitectura i Compiladors |
dc.contributor.author | Upasani, Gaurang |
dc.contributor.author | Vera Rivera, Francisco Javier |
dc.contributor.author | González Colás, Antonio María |
dc.date | 2014 |
dc.identifier.citation | Upasani, G.; Vera, X.; Gonzalez, A. Framework for economical error recovery in embedded cores. A: IEEE International On-Line Testing Symposium. "Proceedings of the 2014 IEEE 20th International On-Line Testing Symposium (IOLTS): 7-9 July 2014, Hotel Cap Roig, Platja d’Aro, Catalunya, Spain". Platja d'Aro: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2014, p. 146-153. |
dc.identifier.citation | 978-1-4799-5323-3 |
dc.identifier.citation | 10.1109/IOLTS.2014.6873687 |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2117/27190 |
dc.language.iso | eng |
dc.publisher | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
dc.relation | http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=6873687 |
dc.rights | Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
dc.rights | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ |
dc.subject | Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica::Circuits integrats |
dc.subject | Àrees temàtiques de la UPC::Informàtica::Sistemes d'informació::Emmagatzematge i recuperació de la informació |
dc.subject | Embedded computer systems |
dc.subject | Memory management (Computer science) |
dc.subject | Acoustics |
dc.subject | Budget control |
dc.subject | Error detection |
dc.subject | Transistors |
dc.subject | Chip multi-processors (CMPs) |
dc.subject | Exponential growth rates |
dc.subject | Lower voltages |
dc.subject | On-chip transistors |
dc.subject | Scalable architectures |
dc.subject | Shrinking feature sizes |
dc.subject | Transient errors |
dc.subject | Wave detectors |
dc.subject | Embedded systems |
dc.subject | Sistemes incrustats (Informàtica) |
dc.subject | Gestió de memòria (Informàtica) |
dc.title | Framework for economical error recovery in embedded cores |
dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion |
dc.type | info:eu-repo/semantics/conferenceObject |
dc.description.abstract | |
dc.description.abstract |