To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/27086

Variability and reliability analysis of CNFET technology: Impact of manufacturing imperfections
Almudever, Carmen G.; Rubio Sola, Jose Antonio
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica::Circuits integrats
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica
Nanotubes -- Reliability
Carbon nanotube field-effect transistors (CNFETs)
Carbon nanotubes (CNTs)
CNFET manufacturing imperfections
CNFET variability and reliability
Nanotubs -- Fiabilitat
info:eu-repo/semantics/submittedVersion
Article
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Amat Bertran, Esteve; Calomarde Palomino, Antonio; Almudever, Carmen G.; Aymerich Capdevila, Nivard; Canal Corretger, Ramon; Rubio Sola, Jose Antonio
García Leyva, Lancelot; Rubio Sola, Jose Antonio; Moll Echeto, Francisco de Borja; Calomarde Palomino, Antonio
Calomarde Palomino, Antonio; Mateo Peña, Diego; Rubio Sola, Jose Antonio
Lambie, J; Moll Echeto, Francisco de Borja; González Jiménez, José Luis; Rubio Sola, Jose Antonio
Rubio Sola, Jose Antonio; Pons Nin, Joan; Anglada, Raimon
 

Coordination

 

Supporters