Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/27086

Variability and reliability analysis of CNFET technology: Impact of manufacturing imperfections
Almudever, Carmen G.; Rubio Sola, Jose Antonio
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica::Circuits integrats
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica
Nanotubes -- Reliability
Carbon nanotube field-effect transistors (CNFETs)
Carbon nanotubes (CNTs)
CNFET manufacturing imperfections
CNFET variability and reliability
Nanotubs -- Fiabilitat
info:eu-repo/semantics/submittedVersion
Artículo
         

Mostrar el registro completo del ítem

Documentos relacionados

Otros documentos del mismo autor/a

Amat Bertran, Esteve; Calomarde Palomino, Antonio; Almudever, Carmen G.; Aymerich Capdevila, Nivard; Canal Corretger, Ramon; Rubio Sola, Jose Antonio
Amat Bertran, Esteve; García Almudéver, Carmen; Aymerich Capdevila, Nivard; Canal Corretger, Ramon; Rubio Sola, Jose Antonio
García Leyva, Lancelot; Rubio Sola, Jose Antonio; Moll Echeto, Francisco de Borja; Calomarde Palomino, Antonio
Pouyan, Peyman; Amat Bertran, Esteve; Rubio Sola, Jose Antonio
Pons Solé, Marc; Moll Echeto, Francisco de Borja; Rubio Sola, Jose Antonio; Abella Ferrer, Jaume; Vera Rivera, Francisco Javier; González Colás, Antonio María