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Characterization of random telegraph noise and its impact on reliability of SRAM sense amplifiers
Martín Martínez, Javier; Diaz, Javier; Rodríguez, Rosana; Nafria, Montse; Aymerich Humet, Xavier; Roca Moreno, Elisenda; Fernández Fernández, Francisco V.; Rubio Sola, Jose Antonio
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Components electrònics::Transistors
Transistors
Random Telegraph Noise
CMOS
parameter extraction
characterization
Reliability
sense amplifiers
Transistors
info:eu-repo/semantics/submittedVersion
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
         

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