To access the full text documents, please follow this link:

Design and implementation of automatic test equipment IP module
Fransi Palos, Sergi; Farre Lozano, Goretti; Garcia Deiros, Lucas; Manich Bou, Salvador
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica
Digital integrated circuits -- Testing
Automatic Testing
Digital Circuits
Field Programmable Gate Arrays
Intellectual Property
Low Power Tester
Low Cost ICs
Multisite Tester.
Circuits integrats digitals -- Proves
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Neagu, Madalin; Miclea, Liviu; Manich Bou, Salvador
Manich Bou, Salvador; Wamser, Markus S.; Sigl, Georg