Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/26780

Design and implementation of automatic test equipment IP module
Fransi Palos, Sergi; Farre Lozano, Goretti; Garcia Deiros, Lucas; Manich Bou, Salvador
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica
Digital integrated circuits -- Testing
Automatic Testing
Digital Circuits
Field Programmable Gate Arrays
Intellectual Property
Low Power Tester
Low Cost ICs
Multisite Tester.
Circuits integrats digitals -- Proves
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
         

Mostrar el registro completo del ítem

Documentos relacionados

Otros documentos del mismo autor/a

Manich Bou, Salvador; Wamser, Markus S.; Sigl, Georg
Neagu, Madalin; Miclea, Liviu; Manich Bou, Salvador
Rodríguez Montañés, Rosa; Arumi Delgado, Daniel; Manich Bou, Salvador; Figueras Pàmies, Joan; Di Carlo, Stefano; Prinetto, Paolo; Scionti, Alberto