To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/26780

Design and implementation of automatic test equipment IP module
Fransi Palos, Sergi; Farre Lozano, Goretti; Garcia Deiros, Lucas; Manich Bou, Salvador
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica
Digital integrated circuits -- Testing
Automatic Testing
Digital Circuits
Field Programmable Gate Arrays
Intellectual Property
Low Power Tester
Low Cost ICs
Multisite Tester.
Circuits integrats digitals -- Proves
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Neagu, Madalin; Miclea, Liviu; Manich Bou, Salvador
Manich Bou, Salvador; Wamser, Markus S.; Sigl, Georg
 

Coordination

 

Supporters