To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/26264

Towards atomic force microscopy measurements using differential self-mixing interferometry
Azcona Guerrero, Francisco Javier; Royo Royo, Santiago; Jha, Ajit
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Òptica i Optometria; Universitat Politècnica de Catalunya. GREO - Grup de Recerca en Enginyeria Òptica
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria dels materials
Àrees temàtiques de la UPC::Ciències de la visió::Òptica física
Microscopy--Measurement
Interferometry
Atomic force microscopy
Self-mixing interferometry
AFM
lasers
Interferometria
Microscòpia de força atòmica
Òptica -- Mesuraments
Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Jha, Ajit; Azcona Guerrero, Francisco Javier; Royo Royo, Santiago
Azcona Guerrero, Francisco Javier; Atashkhooei, Reza; Royo Royo, Santiago; Méndez Astudillo, Jorge; Jha, Ajit
Arasanz Tena, Andrés; Azcona Guerrero, Francisco Javier; Royo Royo, Santiago; Jha, Ajit; Pladellorens Mallofré, Josep
Atashkhooei, Reza; Royo Royo, Santiago; Azcona Guerrero, Francisco Javier
Atashkhooei, Reza; Royo Royo, Santiago; Azcona Guerrero, Francisco Javier
 

Coordination

 

Supporters