Per accedir als documents amb el text complet, si us plau, seguiu el següent enllaç: http://hdl.handle.net/2117/26217

Criteria for indirect measurements in M-S testing
Gómez Pau, Álvaro; Balado Suárez, Luz María; Figueras Pàmies, Joan
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Circuits electrònics
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Instrumentació i mesura
Linear integrated circuits
Mixed signal circuits
Mixed-Signal Test
Analog Test
Alternate Test
Indirect Measurements
Alternate Feature Selection
Signature Selection
Optimum Measures Selection
Quadtrees
Octrees
Analog Filter
Circuits integrats lineals
Circuits integrats mixtos
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
         

Mostra el registre complet del document

Documents relacionats

Altres documents del mateix autor/a

Gómez Pau, Álvaro; Balado Suárez, Luz María; Figueras Pàmies, Joan
Gómez Pau, Álvaro; Balado Suárez, Luz María; Figueras Pàmies, Joan
Gómez Pau, Álvaro; Sanahuja Moliner, Ricard; Balado Suárez, Luz María; Figueras Pàmies, Joan
Gómez Pau, Álvaro; Balado Suárez, Luz María; Figueras Pàmies, Joan; Chatterjee, Abhijit
Gómez Pau, Álvaro; Balado Suárez, Luz María; Figueras Pàmies, Joan