Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/25636

Reliability challenges in design of memristive memories
Pouyan, Peyman; Amat, Esteve; Rubio Sola, Jose Antonio
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica
Electronics
Memristors
Memristors
Circuits elèctrics
info:eu-repo/semantics/submittedVersion
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
         

Mostrar el registro completo del ítem

Documentos relacionados

Otros documentos del mismo autor/a

Pouyan, Peyman; Amat, Esteve; Rubio Sola, Jose Antonio
Pouman, Peyman; Amat, Esteve; Hamdioui, Said; Rubio Sola, Jose Antonio
Pouyan, Peyman; Amat Bertran, Esteve; Rubio Sola, Jose Antonio