To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/25636

Reliability challenges in design of memristive memories
Pouyan, Peyman; Amat, Esteve; Rubio Sola, Jose Antonio
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica
Electronics
Memristors
Memristors
Circuits elèctrics
info:eu-repo/semantics/submittedVersion
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Pouyan, Peyman; Amat, Esteve; Rubio Sola, Jose Antonio
Pouyan, Peyman; Amat Bertran, Esteve; Rubio Sola, Jose Antonio
Pouyan, Peyman; Amat Bertran, Esteve; Rubio Sola, Jose Antonio
Pouyan, Peyman; Amat Bertran, Esteve; Moll Echeto, Francisco de Borja; Rubio Sola, Jose Antonio
 

Coordination

 

Supporters