Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/25636

Título:	Reliability challenges in design of memristive memories
Autor/a:	Pouyan, Peyman; Amat, Esteve; Rubio Sola, Jose Antonio
Otros autores:	Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions
Materia(s):	-Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica -Electronics -Memristors -Memristors -Circuits elèctrics
Derechos:
Tipo de documento:	Artículo - Versión presentada Objeto de conferencia
Compartir:

Mostrar el registro completo del ítem