Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/25523
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica |
---|---|
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat |
dc.contributor.author | Banerjee, Suvadeep |
dc.contributor.author | Gómez Pau, Álvaro |
dc.contributor.author | Chatterjee, Abhijit |
dc.contributor.author | Abraham, Jacob |
dc.date | 2014 |
dc.identifier.citation | Banerjee, S. [et al.]. Error resilient real-time state variable systems signal processing and control. A: Asian Test Symposium. "Asian Test Symposium". Hangzhou: 2014, p. 39-44. |
dc.identifier.citation | 10.1109/ATS.2014.19 |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2117/25523 |
dc.language.iso | eng |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
dc.subject | Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica |
dc.subject | Electronics |
dc.subject | Enginyeria electrònica |
dc.title | Error resilient real-time state variable systems signal processing and control |
dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion |
dc.type | info:eu-repo/semantics/conferenceObject |