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Application of the Feature Selective Validation Method to Pattern Recognition
Ventosa Llopart, Josep Oriol; Pous Solà, Marc; Silva Martínez, Fernando; Jauregui Telleria, Ricardo Ignacio
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. IEB - Instrumentació Electrònica i Biomèdica
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Instrumentació i mesura::Compatibilitat electromagnètica
Electromagnetic compatibility.
Computational electromagnetics method
data comparison
feature selective validation (FSV) method
pattern recognition
validation
COMPUTATIONAL ELECTROMAGNETICS CEM
SYSTEM
PERFORMANCE
FSV
Compatibilitat electromagnètica
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
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