To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/25346

Application of the Feature Selective Validation Method to Pattern Recognition
Ventosa Llopart, Josep Oriol; Pous Solà, Marc; Silva Martínez, Fernando; Jauregui Telleria, Ricardo Ignacio
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. IEB - Instrumentació Electrònica i Biomèdica
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Instrumentació i mesura::Compatibilitat electromagnètica
Electromagnetic compatibility.
Computational electromagnetics method
data comparison
feature selective validation (FSV) method
pattern recognition
validation
COMPUTATIONAL ELECTROMAGNETICS CEM
SYSTEM
PERFORMANCE
FSV
Compatibilitat electromagnètica
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
Article
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Jauregui Telleria, Ricardo Ignacio; Zhang, Gang; Rojas Mora, Julio; Ventosa Llopart, Josep Oriol; Silva Martínez, Fernando; Duffy, Alistair P.; Sasse, Hugh
Azpúrua, Marco A.; Paez, Eduardo Javier; Rojas Mora, Julio; Ventosa Llopart, Josep Oriol; Silva Martínez, Fernando; Zhang, Gang; Duffy, Alistair P.; Jauregui Telleria, Ricardo Ignacio
Jauregui Telleria, Ricardo Ignacio; Pous Solà, Marc; Silva Martínez, Fernando
Azpúrua Auyanet, Barón Marco Aurelio; Jauregui Telleria, Ricardo Ignacio; Silva Martínez, Fernando; Parra, Xileidys
Jauregui Tellería, Ricardo; Pous Solà, Marc; Fernández Chimeno, Mireya; Silva Martínez, Fernando
 

Coordination

 

Supporters