Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/25101

Evaluation and assessment of professional skills in the Final Year Project
Sánchez Carracedo, Fermín; Climent Vilaró, Joan; Corbalán González, Julita; Fonseca Casas, Pau; García Almiñana, Jordi; Herrero Zaragoza, José Ramón; Llinàs Audet, Francisco Javier; Rodríguez Hontoria, Horacio; Sancho Samsó, María Ribera; Alier Forment, Marc; Cabré Garcia, José M.; López Álvarez, David
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Arquitectura de Computadors; Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria de Sistemes, Automàtica i Informàtica Industrial; Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Estadística i Investigació Operativa; Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Organització d'Empreses; Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Ciències de la Computació; Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria de Serveis i Sistemes d'Informació; Universitat Politècnica de Catalunya. CAP - Grup de Computació d´Altes Prestacions; Universitat Politècnica de Catalunya. VIS - Visió Artificial i Sistemes Intel.ligents; Universitat Politècnica de Catalunya. LIAM - Laboratori de Modelització i Anàlisi de la Informació; Universitat Politècnica de Catalunya. CUDU - Càtedra UNESCO de Direcció Universitària; Universitat Politècnica de Catalunya. GPLN - Grup de Processament del Llenguatge Natural; Universitat Politècnica de Catalunya. MPI - Modelització i processament d´informació; Universitat Politècnica de Catalunya. SUSHITOS - Grup de recerca en serveis per a tecnologies d'informació socials, ubiqües i humanístiques, i per a software lliure
Àrees temàtiques de la UPC::Informàtica
Àrees temàtiques de la UPC::Ensenyament i aprenentatge
Engineering -- Examinations, questions, etc.
Final Year Project
Evaluation of FYP
Evaluation of professional skills
Enginyeria -- Exàmens, preguntes, etc
info:eu-repo/semantics/submittedVersion
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
         

Mostrar el registro completo del ítem

Documentos relacionados

Otros documentos del mismo autor/a

García Almiñana, Jordi; García Gómez, Helena; López Álvarez, David; Sánchez Carracedo, Fermín; Vidal López, Eva María; Alier Forment, Marc; Cabré Garcia, José M.
López Álvarez, David; Sánchez Carracedo, Fermín; Vidal López, Eva María; Pegueroles Vallés, Josep R.; Alier Forment, Marc; Cabré Garcia, José M.; García Almiñana, Jordi; García, Helena
Sánchez Carracedo, Fermín; Soler Cervera, Antonia; López Álvarez, David; Martín Escofet, Carme; Ageno Pulido, Alicia; Belanche Muñoz, Luis Antonio; Cabré Garcia, José M.; Cobo Valeri, Erik; Farré Cirera, Rafael; García Almiñana, Jordi; Marès Martí, Pere
López Álvarez, David; Sánchez Carracedo, Fermín; García Almiñana, Jordi; Alier Forment, Marc; Piguillem Poch, Jordi; Velasco Becerra, Martha Elena
Alier Forment, Marc; López Álvarez, David; García Almiñana, Jordi; Sánchez Carracedo, Fermín