Per accedir als documents amb el text complet, si us plau, seguiu el següent enllaç: http://hdl.handle.net/2117/24758

Use of reference limits in the Feature Selective Validation (FSV) method
Jauregui Telleria, Ricardo Ignacio; Pous Solà, Marc; Silva Martínez, Fernando
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. IEB - Instrumentació Electrònica i Biomèdica
Àrees temàtiques de la UPC::Física::Electromagnetisme
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació::Radiocomunicació i exploració electromagnètica
Electromagnetic compatibility
Computer simulation
Computational Electromagnetics (CEM)
Computer simulation
Data comparison
Feature Selective Validation method (FSV)
Numerical simulation
Validation
Reference limits
Compatibilitat electromagnètica
Simulació per ordinador
Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
         

Mostra el registre complet del document

Documents relacionats

Altres documents del mateix autor/a

Ventosa Llopart, Josep Oriol; Pous Solà, Marc; Silva Martínez, Fernando; Jauregui Telleria, Ricardo Ignacio
Azpúrua Auyanet, Barón Marco Aurelio; Jauregui Telleria, Ricardo Ignacio; Silva Martínez, Fernando; Parra, Xileidys
Jauregui Telleria, Ricardo Ignacio; Zhang, Gang; Rojas Mora, Julio; Ventosa Llopart, Josep Oriol; Silva Martínez, Fernando; Duffy, Alistair P.; Sasse, Hugh
Azpúrua, Marco A.; Paez, Eduardo Javier; Rojas Mora, Julio; Ventosa Llopart, Josep Oriol; Silva Martínez, Fernando; Zhang, Gang; Duffy, Alistair P.; Jauregui Telleria, Ricardo Ignacio
Jauregui Tellería, Ricardo; Pous Solà, Marc; Fernández Chimeno, Mireya; Silva Martínez, Fernando