To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/24195

Shape effects on electromigration in VLSI interconnects
González Jiménez, José Luis; Rubio Sola, Jose Antonio
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica::Circuits integrats
Linear integrated circuits
Circuits integrats lineals
Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
Article
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Lambie, J; Moll Echeto, Francisco de Borja; González Jiménez, José Luis; Rubio Sola, Jose Antonio
González Jiménez, José Luis; Rubio Sola, Jose Antonio
Aragonès Cervera, Xavier; González Jiménez, José Luis; Moll Echeto, Francisco de Borja; Rubio Sola, Jose Antonio
Altet Sanahujes, Josep; Gómez Salinas, Dídac; Dufis, Cédric Yvan; González Jiménez, José Luis; Mateo Peña, Diego; Aragonès Cervera, Xavier; Moll Echeto, Francisco de Borja; Rubio Sola, Jose Antonio
 

Coordination

 

Supporters