Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/24147

Characterization and modeling of the conducted emission of integrated circuits up to 3 GHz
Berbel Artal, Néstor; Fernández García, Raúl; Gil Galí, Ignacio
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. TIEG - Grup d'Electrònica Industrial Terrassa
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Circuits electrònics
Integrated circuits
Electromagnetic compatibility
Microwave integrated circuits
Impedance (Electricity)
Conducted emissions
electromagnetic compatibility (EMC)
feature selective validation (FSV)
integrated circuit (IC)
IC emission model (ICEM-CE)
internal activity (IA)
computational electromagnetics CEM
selective validation FSV
Circuits integrats
Compatibilitat electromagnètica
Circuits integrats de microones
Impedància (Electricitat)
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
Artículo
         

Mostrar el registro completo del ítem

Documentos relacionados

Otros documentos del mismo autor/a

Pérez Robles, Daniel; Gil Galí, Ignacio; Gago Barrio, Javier; Fernández García, Raúl; Balcells Sendra, Josep; González Díez, David; Berbel Artal, Néstor; Mon González, Juan
Berbel Artal, Néstor; Fernández García, Raúl; Gil Galí, Ignacio
Berbel Artal, Néstor; Fernández García, Raúl; Gil Galí, Ignacio; Li, B.; Boyer, A.; BenDhia, S.
Fernández García, Raúl; Berbel Artal, Néstor; Gil Galí, Ignacio; Morata Cariñena, Marta