To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/23425

Corrections on “Failure Transition Distance-Based Importance Sampling Schemes for the Simulation of Repairable Fault-Tolerant Computer Systems"
Carrasco, Juan A.
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat
-Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica::Sistemes digitals programables
-Electric measurements - Instruments
-Electrònica--Mesuraments--Aparells i instruments
Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
Article - Published version
Article
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
         

Show full item record

 

Coordination

 

Supporters