Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/23386
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica |
---|---|
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat |
dc.contributor.author | Carrasco, Juan A. |
dc.date | 1998 |
dc.identifier.citation | Carrasco, J. Bounding steady-state availability models with phase type repair distributions. A: IEEE International Computer Performance and Dependability Symposium. "IEEE International computer performance and dependability symposium, IPDS'98, September 7-9, 1998, Durham, North Carolina: proceedings". Durham, North Carolina: 1998, p. 259-268. |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2117/23386 |
dc.language.iso | eng |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
dc.subject | Àrees temàtiques de la UPC::Matemàtiques i estadística::Probabilitat |
dc.subject | Markov processes |
dc.subject | Markov, Processos de |
dc.title | Bounding steady-state availability models with phase type repair distributions |
dc.type | info:eu-repo/semantics/submittedVersion |
dc.type | info:eu-repo/semantics/conferenceObject |
dc.description.abstract |