Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/23181

Phase contrast and operation regimes in multifrequency atomic force microscopy
Santos Hernández, Sergio
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Disseny i Programació de Sistemes Electrònics
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica
Atomic force microscopy
Modulation (Electronics)
Soft matter
Mode
Energy
Liquid
AFM
Microscòpia de força atòmica
Modulació (Electrònica)
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
Artículo
         

Mostrar el registro completo del ítem

Documentos relacionados

Otros documentos del mismo autor/a

Santos Hernández, Sergio; Barcons Xixons, Víctor; Christenson, Hugo K.; Billingsley, Daniel J.; Bonass, William A.; Font Teixidó, Josep; Thomson, Neil H.
Santos Hernández, Sergio; Barcons Xixons, Víctor; Verdaguer, Albert; Font Teixidó, Josep; Thomson, Neil H.; Chiesa, Mateo
Santos Hernández, Sergio; Gadelrab,, K.; Barcons Xixons, Víctor; Stefancich, M.; Chiesa, Matteo
Santos Hernández, Sergio; Phillips, M.A.; Verdaguer, Albert; Font Teixidó, Josep; Chiesa, Matteo; Gadelrab,, K.; Stefancich, M.; Armstrong, P.; Li, G.; Souier, T.; Thomson, Neil H.; Barcons Xixons, Víctor
Font Teixidó, Josep; Santos Hernández, Sergio; Barcons Xixons, Víctor; Thomson, Neil H.; Verdaguer, Albert; Chiesa, Matteo