Per accedir als documents amb el text complet, si us plau, seguiu el següent enllaç: http://hdl.handle.net/2117/23181

Phase contrast and operation regimes in multifrequency atomic force microscopy
Santos Hernández, Sergio
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Disseny i Programació de Sistemes Electrònics
-Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica
-Atomic force microscopy
-Modulation (Electronics)
-Soft matter
-Mode
-Energy
-Liquid
-AFM
-Microscòpia de força atòmica
-Modulació (Electrònica)
Article - Versió publicada
Article
         

Mostra el registre complet del document

Documents relacionats

Altres documents del mateix autor/a

Santos Hernández, Sergio; Barcons Xixons, Víctor; Verdaguer, Albert; Chiesa, Matteo
Font Teixidó, Josep; Santos Hernández, Sergio; Barcons Xixons, Víctor; Thomson, Neil H.; Verdaguer, Albert; Chiesa, Matteo
Santos Hernández, Sergio; Gadelrab,, K.; Barcons Xixons, Víctor; Stefancich, M.; Chiesa, Matteo
Santos Hernández, Sergio; Phillips, M.A.; Verdaguer, Albert; Font Teixidó, Josep; Chiesa, Matteo; Gadelrab,, K.; Stefancich, M.; Armstrong, P.; Li, G.; Souier, T.; Thomson, Neil H.; Barcons Xixons, Víctor
Santos Hernández, Sergio; Barcons Xixons, Víctor; Christenson, Hugo K.; Billingsley, Daniel J.; Bonass, William A.; Font Teixidó, Josep; Thomson, Neil H.