Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/23028
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica |
---|---|
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions |
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. INSIDE - Innovació en Sistemes per al Disseny i la Formació a l'Enginyeria |
dc.contributor.author | Calomarde Palomino, Antonio |
dc.contributor.author | Amat Bertran, Esteve |
dc.contributor.author | Moll Echeto, Francisco de Borja |
dc.contributor.author | Vigara Campmany, Julio Enrique |
dc.contributor.author | Rubio Sola, Jose Antonio |
dc.date | 2014-04-01 |
dc.identifier.citation | Calomarde, A. [et al.]. SET and noise fault tolerant circuit design techniques: application to 7 nm FinFET. "Microelectronics reliability", 01 Abril 2014, vol. 54, núm. 4, p. 738-745. |
dc.identifier.citation | 0026-2714 |
dc.identifier.citation | 10.1016/j.microrel.2013.12.018 |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2117/23028 |
dc.language.iso | eng |
dc.relation | http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0026271413004708 |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
dc.subject | Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica::Circuits integrats |
dc.subject | Integrated circuits |
dc.subject | Noise control |
dc.subject | Soroll--Control |
dc.subject | Circuits integrats |
dc.title | SET and noise fault tolerant circuit design techniques: application to 7 nm FinFET |
dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion |
dc.type | info:eu-repo/semantics/article |
dc.description.abstract | |
dc.description.abstract |