Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/22468

Defect-oriented non-intrusive RF test using on-chip temperature sensors
Abdallah, L.; Stratigopoulos, H. G.; Mir, S.; Altet Sanahujes, Josep
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Instrumentació i mesura::Sensors i actuadors
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica::Circuits integrats
Temperature measuring instruments
Integrated circuits -- Verification
Integrated circuit testing
Low noise amplifiers
Radiofrequency amplifiers
Temperature sensors
Termometria -- Aparells i instruments
Circuits integrats -- Verificació
Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
         

Mostrar el registro completo del ítem

Documentos relacionados

Otros documentos del mismo autor/a

Rubio Sola, Jose Antonio; Altet Sanahujes, Josep; Mateo Peña, Diego
Onabajo, M.; Gómez Salinas, Dídac; Aldrete Vidrio, Eduardo; Altet Sanahujes, Josep; Mateo Peña, Diego; Silva-Martínez, José
González Jiménez, José Luis; Martineau, Baudouin; Mateo Peña, Diego; Altet Sanahujes, Josep
Aldrete Vidrio, Héctor; Onabajo, M.; Altet Sanahujes, Josep; Mateo Peña, Diego; Silva-Martínez, José
Altet Sanahujes, Josep; Mateo Peña, Diego; Aldrete Vidrio, Héctor