To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/21802

Enhanced sensitivity and contrast with bimodal atomic force microscopy with small and ultra-small amplitudes in ambient conditions
Santos Hernández, Sergio
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Disseny i Programació de Sistemes Electrònics
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació
Atomic force microscopy
DNA
Sample interaction regimes
Modulation AFM
Mode
Spectroscopy
Resolution
Surface
Energy
Microscòpia de força atòmica
ADN
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
Article
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Santos Hernández, Sergio; Barcons Xixons, Víctor; Christenson, Hugo K.; Billingsley, Daniel J.; Bonass, William A.; Font Teixidó, Josep; Thomson, Neil H.
Chiesa, Matteo; Gadelrab, Karim Raafat; Verdaguer, Albert; Segura, Juan José; Barcons Xixons, Víctor; Thomson, Neil H.; Phillips, M.A.; Stefancich, M.; Santos Hernández, Sergio
Santos Hernández, Sergio; Barcons Xixons, Víctor; Verdaguer, Albert; Font Teixidó, Josep; Thomson, Neil H.; Chiesa, Mateo
Santos Hernández, Sergio; Gadelrab,, K.; Barcons Xixons, Víctor; Stefancich, M.; Chiesa, Matteo
Santos Hernández, Sergio; Phillips, M.A.; Verdaguer, Albert; Font Teixidó, Josep; Chiesa, Matteo; Gadelrab,, K.; Stefancich, M.; Armstrong, P.; Li, G.; Souier, T.; Thomson, Neil H.; Barcons Xixons, Víctor
 

Coordination

 

Supporters