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Enhanced sensitivity and contrast with bimodal atomic force microscopy with small and ultra-small amplitudes in ambient conditions
Santos Hernández, Sergio
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Disseny i Programació de Sistemes Electrònics
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació
Atomic force microscopy
DNA
Sample interaction regimes
Modulation AFM
Mode
Spectroscopy
Resolution
Surface
Energy
Microscòpia de força atòmica
ADN
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
Artículo
         

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