Per accedir als documents amb el text complet, si us plau, seguiu el següent enllaç: http://hdl.handle.net/2117/21690

Characterization of conducted emission at high frequency under different temperature
Berbel Artal, Néstor; Fernández García, Raúl; Gil Galí, Ignacio
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. TIEG - Grup d'Electrònica Industrial Terrassa
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Electrònica de potència
Integrated circuits
Temperature
EMC
Integrated circuit
conducted emission
switching noise
temperature impact
Circuits integrats
Temperatura -- Control
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
         

Mostra el registre complet del document

Documents relacionats

Altres documents del mateix autor/a

Berbel Artal, Néstor; Fernández García, Raúl; Gil Galí, Ignacio; Li, B.; Boyer, A.; BenDhia, S.
Berbel Artal, Néstor; Fernández García, Raúl; Gil Galí, Ignacio
Berbel Artal, Néstor; Fernández García, Raúl; Gil Galí, Ignacio
Fernández García, Raúl; Berbel Artal, Néstor; Gil Galí, Ignacio; Morata Cariñena, Marta