Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/21393
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica |
---|---|
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat |
dc.contributor.author | Manich Bou, Salvador |
dc.contributor.author | Wamser, Markus S. |
dc.contributor.author | Guillen, Oscar M. |
dc.contributor.author | Sigl, Georg |
dc.date | 2013 |
dc.identifier.citation | Manich, S. [et al.]. Differential scan-path: A novel solution for secure design-for-testability. A: IEEE International Test Conference. "IEEE International Test Conference". Califòrnia: 2013, p. 1-9. |
dc.identifier.citation | 978-1-4799-0859-2 |
dc.identifier.citation | 10.1109/TEST.2013.6651902 |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2117/21393 |
dc.language.iso | eng |
dc.relation | http://ieeexplore.ieee.org/xpl/articleDetails.jsp?arnumber=6651902 |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
dc.subject | Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica::Circuits integrats |
dc.subject | Integrated circuits -- Testing |
dc.subject | Digital electronics -- Testing |
dc.subject | security |
dc.subject | testability |
dc.subject | scan path |
dc.subject | attack |
dc.subject | BILBO |
dc.subject | Circuits integrats -- Proves |
dc.subject | Electrònica digital -- Proves |
dc.title | Differential scan-path: A novel solution for secure design-for-testability |
dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion |
dc.type | info:eu-repo/semantics/conferenceObject |
dc.description.abstract |