To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/21393

Differential scan-path: A novel solution for secure design-for-testability
Manich Bou, Salvador; Wamser, Markus S.; Guillen, Oscar M.; Sigl, Georg
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica::Circuits integrats
Integrated circuits -- Testing
Digital electronics -- Testing
security
testability
scan path
attack
BILBO
Circuits integrats -- Proves
Electrònica digital -- Proves
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Manich Bou, Salvador; Wamser, Markus S.; Sigl, Georg
Manich Bou, Salvador; Wamser, Markus S.; Sigl, Georg
Weiner, Michael; Manich Bou, Salvador; Sigl, Georg
Weiner, Michael; Manich Bou, Salvador; Sigl, Georg
 

Coordination

 

Supporters