Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/21142

Reliability study on technology trends beyond 20nm
Amat Bertran, Esteve; Calomarde Palomino, Antonio; Rubio Sola, Jose Antonio
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Circuits electrònics
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica::Circuits integrats
Semiconductors
Semiconductors
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
Lodz University of Technology
         

Mostrar el registro completo del ítem

Documentos relacionados

Otros documentos del mismo autor/a

Amat Bertran, Esteve; Calomarde Palomino, Antonio; García Almudéver, Carmen; Aymerich Capdevila, Nivard; Canal Corretger, Ramon; Rubio Sola, Jose Antonio
Calomarde Palomino, Antonio; Amat Bertran, Esteve; Moll Echeto, Francisco de Borja; Vigara Campmany, Julio Enrique; Rubio Sola, Jose Antonio
Calomarde Palomino, Antonio; Amat Bertran, Esteve; Moll Echeto, Francisco de Borja; Rubio Sola, Jose Antonio
Amat Bertran, Esteve; Calomarde Palomino, Antonio; Almudever, Carmen G.; Aymerich Capdevila, Nivard; Canal Corretger, Ramon; Rubio Sola, Jose Antonio
Amat Bertran, Esteve; Calomarde Palomino, Antonio; Canal Corretger, Ramon; Rubio Sola, Jose Antonio