Per accedir als documents amb el text complet, si us plau, seguiu el següent enllaç: http://hdl.handle.net/2117/21136

Information Leakage Reduction at the Scan-Path Output
Manich Bou, Salvador; Wamser, Markus S.; Sigl, Georg
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica::Circuits integrats
Integrated circuits
security
testability
scan path
attack
smart-card
bilbo.
Circuits integrats -- Testeig
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
         

Mostra el registre complet del document

Documents relacionats

Altres documents del mateix autor/a

Manich Bou, Salvador; Wamser, Markus S.; Guillen, Oscar M.; Sigl, Georg
Manich Bou, Salvador; Wamser, Markus S.; Sigl, Georg
Weiner, Michael; Manich Bou, Salvador; Sigl, Georg
Weiner, Michael; Manich Bou, Salvador; Sigl, Georg