Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/21136

Information Leakage Reduction at the Scan-Path Output
Manich Bou, Salvador; Wamser, Markus S.; Sigl, Georg
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat
-Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica::Circuits integrats
-Integrated circuits
-security
-testability
-scan path
-attack
-smart-card
-bilbo.
-Circuits integrats -- Testeig
Artículo - Versión publicada
Objeto de conferencia
         

Mostrar el registro completo del ítem

Documentos relacionados

Otros documentos del mismo autor/a

Manich Bou, Salvador; Wamser, Markus S.; Guillen, Oscar M.; Sigl, Georg
Manich Bou, Salvador; Wamser, Markus S.; Sigl, Georg
Weiner, Michael; Wieser, Wolfgang; Lupón Roses, Emilio; Sigl, Georg; Manich Bou, Salvador
Weiner, Michael; Manich Bou, Salvador; Sigl, Georg
Weiner, Michael; Manich Bou, Salvador; Sigl, Georg