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Universitat Politècnica de Catalunya
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| dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Òptica i Optometria |
|---|---|
| dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. GREO - Grup de Recerca en Enginyeria Òptica |
| dc.contributor.author | Azcona Guerrero, Francisco Javier |
| dc.contributor.author | Atashkhooei, Reza |
| dc.contributor.author | Royo Royo, Santiago |
| dc.contributor.author | Méndez Astudillo, Jorge |
| dc.contributor.author | Jha, Ajit |
| dc.date | 2013-11-01 |
| dc.identifier.citation | Azcona, F. [et al.]. A nanometric displacement measurement system using differential optical feedback interferometry. "IEEE photonics technology letters", 01 Novembre 2013, vol. 25, núm. 21, p. 2074-2077. |
| dc.identifier.citation | 1041-1135 |
| dc.identifier.citation | 10.1109/LPT.2013.2281269 |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2117/21004 |
| dc.language.iso | eng |
| dc.relation | http://ieeexplore.ieee.org/xpl/articleDetails.jsp?arnumber=6595025 |
| dc.rights | Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain |
| dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
| dc.rights | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ |
| dc.subject | Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Instrumentació i mesura |
| dc.subject | Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Optoelectrònica |
| dc.subject | Interferometry |
| dc.subject | Detectors |
| dc.subject | Nanoelectronics |
| dc.subject | Laser sensors |
| dc.subject | nanodisplacement sensing |
| dc.subject | optical feedback interferometry |
| dc.subject | optical metrology |
| dc.subject | Interferometria |
| dc.subject | Detectors |
| dc.subject | Nanoelectrònica |
| dc.title | A nanometric displacement measurement system using differential optical feedback interferometry |
| dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion |
| dc.type | info:eu-repo/semantics/article |
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